ISSN: 2161-0398
Sahbeni K, Sta I, Jlassi M, Kandyla M, Hajji M, Kompitsas M et Dimassi W
Dans ce travail, la technique de revêtement par centrifugation sol-gel à faible coût a été utilisée pour faire croître des films minces de TiO2 sur des substrats de silicium. L'influence de la température de recuit sur les propriétés structurelles, morphologiques et optiques des films de TiO2 est étudiée. Les propriétés structurelles des films de TiO2 sont étudiées par spectroscopie infrarouge à transformée de Raman et de Fourier (FTIR). Les propriétés morphologiques sont étudiées par microscopie à force atomique (AFM). Les propriétés optiques sont examinées par photoluminescence (PL) et spectroscopie ultraviolette-visible (UV-vis).